王黎明,刘树兵,李兴锋,王洪刚.小麦黄矮病抗性基因及其鉴定研究进展[J].麦类作物学报,2003,23(3):123 |
小麦黄矮病抗性基因及其鉴定研究进展 |
Advances of Study on the BYDV Resistant Genes Used in Wheat and Their Identification |
修订日期:2003-03-06 |
DOI:10.7606/j.issn.1009-1041.2003.03.103 |
中文关键词: 小麦 黄矮病 抗性基因 鉴定 微克隆 微分离 大麦黄矮病毒 |
英文关键词:Wheat yellow dwarf,Identification of resistant genes,BYDV,Microdissection,Microcloning |
基金项目:国家自然科学基金(30070465) |
王黎明 刘树兵 李兴锋 王洪刚 |
山东农业大学农学院,山东农业大学农学院,山东农业大学农学院,山东农业大学农学院 泰安 271018 河南科技大学,洛阳 471003,泰安 271018,泰安 271018,泰安 271018 |
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中文摘要: |
小麦黄矮病是由大麦黄矮病毒(BYDV)引起的小麦主要病害之一。本文综述了小麦BYDV的主要抗性基因及其鉴定方法、微克隆和微分离的研究进展,并对其形态学标记、生化标记、细胞学分析和分子标记鉴定方法的原理及应用作了比较分析。本文最后还提出了目前研究中存在的问题及其未来研究的方向。 |
英文摘要: |
Wheat yellow dwarf, one of the major diseases in wheat was caused by Barley Yellow Dwarf Virus (BYDV). The research progress of the BYDV resistant genes used in wheat and their dissection, cloning and identification methods were summarized. The theories a |
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